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(MIURA; MATUKURA) Discutiram o problema NBTI
Discutiu a instabilidade de temperatura nos circuitos
integrados. -
NBTI como problema para confiabilidade
Devido ao efeito da redução das dimensões dos transistores, o NBTI tornou-se um problema para a confiabilidade dos
sistemas integrados -
Schroder
Aumento da tensão de limiar (VT)
NBTI (Negative Bias Temperature Instability )
PBTI (Positive Bias Temperature Instability ) -
Chuan
Propõe a utilização de um oscilador em anel, baseado
em combinação das portas lógicas NOR e NAND, para isolar e realizar testes de NBTI e PBTI. -
Calimera et al.
Propõe uma solução arquitetural para a redução do envelhecimento de memória cache causada por NBTI -
(CRESSLER; MANTOOTH)
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Kim e Rahul
Utiliza oscilador, constituído de dois anéis e um número impar de
circuitos de repetição, para monitoramento de NBTI e PBTI -
Hoefler
Propõe um circuito de memória resistente a NBTI. A ideia central da proposta é equilibrar o estresse causado pela polarização
negativa de alguns transistores da célula de memória. -
Chan et al.,
As memorias se aproveitaram da evolução de integração dos processadores o que permitiu uma maior densidade disponível -
Khalid,
Apresenta o efeito de degradação do tempo de vida dos transistores em operações de escrita por conta do (NBTI e PBTI)